• Halbleiter- und Festkörperphysik
  • Untersuchungen der elektronischen und optischen Eigenschaften von Halbleiterstrukturen mit:
    • Rasterelektronenmikroskopie (SEM)
    • Energiedisperspersive Röntgenspektroskopie (SEM-EDX)
    • Hochortsaufgelöster Kathodolumineszenz-Spektroskopie (SEM-CL)
    • Elektronenstrahl-induzierte Ströme (SEM-EBIC)
    • Präparation mittels fokussiertem Ionenstrahl (SEM/FIB)
    • Photolumineszenz-Spektroskopie (PL)
    • Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS)
  • Untersuchungen zur Kristallstruktur mit:
    • Elektronenrückstreuung (SEM-EBSD)
    • Röntgendiffraktometrie (XRD)
    • Transmissionselektronenmikroskopie (TEM, TEM-EDX)
    • Energiegefilterter Transmissionselektronenmikroskopie (EFTEM)
    • Transmissionselektronen-Verlustspektroskopie (TEM-EELS)
  • Identifikation von Kristalldefekten
  • Modellierung der optischen und elektronischen Eigenschaften der Defekte
  • Mechanische Modellierung strukturierter Proben (Finite Elemente)
  • Untersuchungen zur Effizienz von LED-Strukturen
  • Optimierung von LED-Strukturen und -Substraten
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